TEM窗格

TEM窗格

TEM薄膜窗口是利用MEMS技术制备而成,由于此种窗口选用低应力氮化硅(0-250MP)薄膜,因此比计量式薄膜更坚固耐用。甫一提供的氮化硅薄膜窗口非常适合应用于透射成像和透射能谱等广泛的科学研究领域,例如,X-射线、TEM、SEM、IR、UV等。

TEM窗格

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尺寸规格

3 mm x 3 mm (窗口尺寸:0.5 mm,薄膜厚度:50 nm)

3 mm x 3 mm (窗口尺寸:1.0 mm,薄膜厚度:50 nm)

3 mm x 3 mm (窗口尺寸:1.0 mm,薄膜厚度:100 nm) 

边框厚度: 200μm、381μm

Si3N4薄膜厚度: 50nm、100nm

TEM窗格

刘经理:15050446272(微信同号)

王经理:18914095290(微信同号)

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